NI PXIe-6544 100MHz 32通道数字波形发生器/分析仪。

该模块属National Instruments数字I/O仪器，用于TTL及可调逻辑电平的数字码型生成、采集与混合信号测试。

32个单端双向数字通道；最高生成与采集100Mbit/s；逻辑电平支持1.2V、1.5V、1.8V、2.5V、3.3V；板载内存按部件号8Mbit/通道或64Mbit/通道；部分部件号不支持硬件比较与PMU；PXI Express背板；工作0–55℃，存储−40–70℃，湿度5%–90%非凝露。同步采用NI SMC架构。

每通道独立方向与时序，支持深板储码型回放；多电平兼容TTL、低电压FPGA与存储器接口；与PXIe模拟、SMU、开关模块组成混合信号测试；SMC同步用于多板亚纳秒级对齐。

数字板卡功能测试、MCU/FPGA IO验证、存储器地址/数据激励、产线TTL设备批量诊断、教学与研发数字协议预研。

100MHz为最大单通道速率；数据流到主机速度资料约660MB/s、从主机约400MB/s，实际受码型长度与触发模式影响；逻辑阈值在1.2–3.3V内按组或通道设定。

金属PXIe屏蔽壳，FPGA数字定时引擎，电平转换与终端电路，单端I/O连接器，板载SDRAM/SDRAM类存储。

单/多槽PXIe数字仪器，前面板I/O连接器，背端PXIe时钟触发；板载DDS时钟最高100MHz。

FPGA按预定时序驱动输出码型，同时采样输入通道；比较预期与实际数据可用于误码统计，深内存支持长帧回放，PXIe触发/时钟实现跨模块同步。

装入PXIe机箱并安装NI数字仪器驱动；100MHz高速线使用阻抗匹配电缆，减少分支；多板同步接PXIe星型触发或SMC时钟。

电平设置不得超过接收器件容限；长电缆补偿传播延迟；不使用PMU/有源负载的部件号勿按该类功能下单；定期自检并校准时间基准。